SEM掃描電鏡分析檢測機構

掃描電子顯微鏡（SEM）是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束與物質間的相互作用，來激發各種物理信息，對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的。

SEM掃描電鏡分析檢測范圍

表面、斷面、薄膜、金屬、陶瓷、聚合物、纖維、生物材料、晶體結構、晶粒尺寸、纖維結構等。

SEM掃描電鏡分析檢測項目

微觀形貌、顆粒尺寸、微區組成、元素分布、粒徑分布分析、粗糙度、表面形貌觀察、微觀結構分析、元素價態和化學鍵、晶體結構、相組成、結構缺陷、晶界結構和組成等。（具體以客戶實際情況為準）

SEM掃描電鏡分析檢測周期：7-15個工作日(參考周期，可加急)

SEM掃描電鏡分析檢測標準（部分）

1、 ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測量用掃描電子顯微鏡的鑒定

2、 ISO 16000-27:2014 室內空氣. 第27部分: 采用SEM(掃描電子顯微鏡檢查法) (直接方法)對表面纖維落塵的測定

3、 NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 室內空氣. 第27部分: 采用SEM (掃描電子顯微鏡檢查法) (直接方法) 對表面纖維落塵的測定

4、 DIN ISO 16000-27:2014 室內空氣. 第27部分: 采用SEM (掃描電子顯微鏡檢查法) (直接方法) 對表面纖維落塵的測定 (ISO 16000-27-2014)

5、 ISO 21466:2019 微束分析.掃描電子顯微鏡.用CD-SEM評定臨界尺寸的方法

6、 JY/T 0584-2020 掃描電子顯微鏡分析方法通則

7、 ASTM F1372-93(2020 用于氣體分布系統部件的金屬表面條件掃描電子顯微鏡（SEM）的標準測試方法

8、 ASTM F1372-93(2012 氣體分配系統組件用金屬表面狀態的掃描式電子顯微鏡 (SEM) 分析的標準試驗方法

9、 JJF 1916-2021 掃描電子顯微鏡校準規范

SEM掃描電鏡分析檢測流程

1、聯系客服，溝通檢測需求；

2、根據實際情況確定樣品遞送流程，上門取樣/送樣/郵寄樣品；

3、對樣品進行初步檢測，獲取樣品的特性以及相關指標；

4、根據客戶的需求，根據檢測經驗及標準方法，定制試驗方案；

5、進行試驗，得到試驗數據，出具測試報告；

6、完善的售后服務，可隨時咨詢；

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